Große Auswahl an günstigen Büchern
Schnelle Lieferung per Post und DHL

Testing and Reliable Design of CMOS Circuits

Über Testing and Reliable Design of CMOS Circuits

In the last few years CMOS technology has become increas ingly dominant for realizing Very Large Scale Integrated (VLSI) circuits. However, the rapid advance ments in this area pose many new problems in the area of testing. Today many universities offer courses in the areas of digital system testing and fault-tolerant computing.

Mehr anzeigen
  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781461288183
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 232
  • Veröffentlicht:
  • 26. September 2011
  • Ausgabe:
  • 11990
  • Abmessungen:
  • 235x155x13 mm.
  • Gewicht:
  • 385 g.
  Versandkostenfrei
  Versandfertig in 1-2 Wochen.

Beschreibung von Testing and Reliable Design of CMOS Circuits

In the last few years CMOS technology has become increas ingly dominant for realizing Very Large Scale Integrated (VLSI) circuits. However, the rapid advance ments in this area pose many new problems in the area of testing. Today many universities offer courses in the areas of digital system testing and fault-tolerant computing.

Kund*innenbewertungen von Testing and Reliable Design of CMOS Circuits



Ähnliche Bücher finden
Das Buch Testing and Reliable Design of CMOS Circuits ist in den folgenden Kategorien erhältlich:

Willkommen bei den Tales Buchfreunden und -freundinnen

Jetzt zum Newsletter anmelden und tolle Angebote und Anregungen für Ihre nächste Lektüre erhalten.