Name: Thermal Aware Testing Techniques for Digital VLSI Circuits
Price: 46.00 EUR
Availability: InStock
Author: Arpita Dutta
ISBN: 9783330075313

Thermal Aware Testing Techniques for Digital VLSI Circuitsvon Arpita Dutta

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Taschenbuch
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46,00 €

Sprache:
Englisch

ISBN:
9783330075313

Verlag:
LAP Lambert Academic Publishing

Einband:
Taschenbuch

Seitenzahl:
136

Veröffentlicht:
18. Mai 2017

Abmessungen:
150x9x220 mm.

Gewicht:
221 g.

46,00 € inkl. MwSt.
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