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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

Über Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

This book surveys state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits, discusses key challenges in post-silicon validation and offers automated solutions that are systematic and cost-effective.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783319005324
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 108
  • Veröffentlicht:
  • 10. Juni 2013
  • Ausgabe:
  • 2013
  • Abmessungen:
  • 235x155x15 mm.
  • Gewicht:
  • 360 g.
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Beschreibung von Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

This book surveys state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits, discusses key challenges in post-silicon validation and offers automated solutions that are systematic and cost-effective.

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