Name: Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Price: 110.00 EUR
Availability: InStock
Author: James Howe
ISBN: 9783642297601

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials von James Howe

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Über Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials.

Sprache:
Englisch

ISBN:
9783642297601

Verlag:
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Einband:
Gebundene Ausgabe

Seitenzahl:
764

Veröffentlicht:
14. Oktober 2012

Ausgabe:
42013

Abmessungen:
155x235x41 mm.

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