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VLSI Design and Test

- 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers

enthalten in Communications in Computer and Information Science-Reihe

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Über VLSI Design and Test

This book constitutes the refereed proceedings of the 22st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2018, held in Madurai, India, in June 2018. The 39 full papers and 11 short papers presented together with 8 poster papers were carefully reviewed and selected from 231 submissions.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9789811359491
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 722
  • Veröffentlicht:
  • 25. Januar 2019
  • Ausgabe:
  • 12019
  • Abmessungen:
  • 155x235x0 mm.
  • Gewicht:
  • 1116 g.
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Beschreibung von VLSI Design and Test

This book constitutes the refereed proceedings of the 22st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2018, held in Madurai, India, in June 2018. The 39 full papers and 11 short papers presented together with 8 poster papers were carefully reviewed and selected from 231 submissions.

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