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VLSI Design and Test for Systems Dependability

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Über VLSI Design and Test for Systems Dependability

This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems. The book consists of three parts.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9784431568636
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 800
  • Veröffentlicht:
  • 26. Januar 2019
  • Ausgabe:
  • 12019
  • Abmessungen:
  • 155x235x0 mm.
  • Gewicht:
  • 1234 g.
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Beschreibung von VLSI Design and Test for Systems Dependability

This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems. The book consists of three parts.

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