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X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures

Über X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures

This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scattering for the structural characterization of mesoscopic material systems.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783540201793
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 204
  • Veröffentlicht:
  • 9. Januar 2004
  • Ausgabe:
  • 2004
  • Abmessungen:
  • 234x156x14 mm.
  • Gewicht:
  • 494 g.
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Beschreibung von X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures

This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scattering for the structural characterization of mesoscopic material systems.

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