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X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures

Über X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures

This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scattering for the structural characterization of mesoscopic material systems.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783642057694
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 204
  • Veröffentlicht:
  • 1. Dezember 2010
  • Ausgabe:
  • 12004
  • Abmessungen:
  • 234x156x11 mm.
  • Gewicht:
  • 338 g.
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Beschreibung von X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures

This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scattering for the structural characterization of mesoscopic material systems.

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