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Yield Simulation for Integrated Circuits

von D. M. Walker

enthalten in The Springer International Series in Engineering and Computer Science-Reihe

Yield Simulation for Integrated Circuits von D. M. Walker Sie sparen 19% des UVP sparen 19%
  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781441952011
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 224
  • Veröffentlicht:
  • 10 Dezember 2010
  • Abmessungen:
  • 155x13x235 mm.
  • Gewicht:
  • 347 g.
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