Name: High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Price: 92.00 EUR
Availability: InStock
Author: Rolf Drechsler
ISBN: 9781441999757

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability von Rolf Drechsler

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Über High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.

Sprache:
Englisch

ISBN:
9781441999757

Verlag:
Springer-Verlag New York Inc.

Einband:
Gebundene Ausgabe

Seitenzahl:
193

Veröffentlicht:
10. März 2011

Ausgabe:
2012

Abmessungen:
234x156x12 mm.

Gewicht:
488 g.

92,00 € inkl. MwSt.
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This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.

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