Name: High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Price: 94.00 EUR
Availability: InStock
Author: Rolf Drechsler
ISBN: 9781489988478

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability von Rolf Drechsler

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Über High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.

Sprache:
Englisch

ISBN:
9781489988478

Verlag:
Springer-Verlag New York Inc.

Einband:
Taschenbuch

Seitenzahl:
193

Veröffentlicht:
20. Oktober 2014

Ausgabe:
2012

Abmessungen:
235x155x11 mm.

Gewicht:
332 g.

94,00 € inkl. MwSt.
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This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.

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